GDJF-2006局部放電測試系統

GDJF-2006局部放電測試系統

的定義及產生(sheng)原(yuan)因

在(zai)電(dian)(dian)(dian)場作用下，絕緣(yuan)(yuan)系(xi)統中只有(you)部(bu)(bu)分區域發(fa)生放(fang)電(dian)(dian)(dian)，但尚未擊穿(chuan)，（即(ji)在(zai)施加電(dian)(dian)(dian)壓的(de)導體(ti)之間沒有(you)擊穿(chuan)）。這種現象(xiang)稱(cheng)之為局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)。局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)可能發(fa)生在(zai)導體(ti)邊上，也可能發(fa)生在(zai)絕緣(yuan)(yuan)體(ti)的(de)表(biao)面上和內(nei)部(bu)(bu)，發(fa)生在(zai)表(biao)面的(de)稱(cheng)為表(biao)面局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)。發(fa)生在(zai)內(nei)部(bu)(bu)的(de)稱(cheng)為內(nei)部(bu)(bu)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)。而(er)對于被氣(qi)體(ti)包圍(wei)的(de)導體(ti)附近發(fa)生的(de)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)，稱(cheng)之為電(dian)(dian)(dian)暈。由此 總結一下局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)的(de)定(ding)義，指(zhi)部(bu)(bu)分的(de)橋(qiao)接導體(ti)間絕緣(yuan)(yuan)的(de)一種電(dian)(dian)(dian)氣(qi)放(fang)電(dian)(dian)(dian)，局(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)產生原因主要有(you)以下幾種：

• 電場不均勻。

• 電介質不(bu)均(jun)勻。

• 制(zhi)造過(guo)程的(de)氣(qi)泡(pao)或雜質(zhi)。zui經(jing)常發(fa)生(sheng)放電的(de)原因是絕緣體內部或表面存在(zai)氣(qi)泡(pao)；其次是有些設備的(de)運行過(guo)程中會(hui)發(fa)生(sheng)熱脹冷縮,不(bu)同材料特別是導(dao)體與介(jie)質(zhi)的(de)膨脹系(xi)數不(bu)同，也會(hui)逐漸(jian)出(chu)現裂縫(feng)；再有一些是在(zai)運行過(guo)程中有機(ji)高分子的(de)老化(hua)，分解出(chu)各(ge)種揮發(fa)物，在(zai)高場強的(de)作用下(xia)，電荷不(bu)斷(duan)地(di)由導(dao)體進(jin)入介(jie)質(zhi)中， 在(zai)注入點上就會(hui)使介(jie)質(zhi)氣(qi)化(hua)。

產品用途

GDJF2006 局(ju)部放電檢測分析系統（局(ju)放儀）由三大模塊構成：信號處理模塊，隔離模塊，采集處理模塊。根據系統連接圖，檢測阻抗將局部放電信號檢出并送到信號處理模塊，信號處理模塊完成將局部放電信號整理、放大、整形等功能后將局部放電信號送往隔離模塊，隔離模塊將計算機采集處理模塊和信號處理模塊隔開，防止它們之間互相干擾，zui后由采集處理模塊完成對局部放電信號的采集.處理.分析和顯示

• 采用(yong)高速.大(da)容量數據采集卡，能進行連(lian)續采集局放數據,數據復(fu)現性好,準(zhun)確度高。

• 具(ju)有測試.分(fen)(fen)析(xi)(多(duo)參數分(fen)(fen)析(xi).二維(wei)圖譜分(fen)(fen)析(xi).三維(wei)圖譜分(fen)(fen)析(xi)).數據(ju)保(bao)存(cun)。報告生成及打(da)印等(deng)功能

• 能(neng)同時顯示(shi)局部放電(dian)波形（橢圓。正鉉波。直(zhi)線三(san)種方(fang)式(shi)）。局放量和測試電(dian)壓。

• 在校正和(he)測試過程中自動調節增益(yi)而不需(xu)要(yao)人為干預，操做簡(jian)便.

• 可適應工頻（50Hz）三(san)倍頻（150Hz）zui高(gao)至400Hz的電源。

• 可實現對外加電源頻率的自動跟(gen)蹤.

• 開門開窗可(ke)任意設(she)置zui小可(ke)至(zhi)1度。

• 可單通道也可六(liu)個通道進行測量.

• 體(ti)積小，重量(liang)輕。既適合于電力部(bu)門和制造廠車間等現場使用，也適合于科學研究試驗。

• 靈(ling)敏度高，適用的試品范圍(wei)廣等優點。

與(yu)局放(fang)儀相關的(de)三種典(dian)型的(de)試品的(de)試驗線(xian)路(lu)：

（一）并聯法        （二）串聯法              （三）平衡(heng)法

• 標準試驗電路，又稱并聯(lian)法。適合于(yu)必須接地的(de)試品。 其缺點(dian)是高(gao)壓(ya)引(yin)線對地雜(za)散電容并聯(lian)在 CX上，會(hui)降(jiang)低測試靈敏度。

• 接法的串聯法，其(qi)要(yao)求(qiu)試(shi)品(pin)低壓(ya)(ya)端對地浮置(zhi)。 其(qi)優點(dian)是變(bian)壓(ya)(ya)器入口電容、高壓(ya)(ya)線(xian)對地雜(za)散(san)電容與耦合電容CK并聯，有利于提高試(shi)驗靈敏度。缺點(dian)是試(shi)樣損壞(huai)(huai)時會損壞(huai)(huai)輸入單元。

• 平衡(heng)法試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)(dian)路：要求兩(liang)個(ge)試(shi)(shi)品(pin)相接近，至少電(dian)(dian)容(rong)量為(wei)同(tong)一數量級其優點是(shi)(shi)外干(gan)(gan)擾(rao)強烈的(de)情況下，可取得(de)較好(hao)抑(yi)制干(gan)(gan)擾(rao)的(de)效果(guo)，并(bing)可消除變壓器(qi)雜散電(dian)(dian)容(rong)的(de)影響，而且(qie)可做大電(dian)(dian)容(rong)試(shi)(shi)驗(yan)。缺點是(shi)(shi)須要兩(liang)個(ge)相似的(de)試(shi)(shi)品(pin)，且(qie)當產生(sheng)放電(dian)(dian)時，需設法判(pan)別是(shi)(shi)哪(na)個(ge)試(shi)(shi)品(pin)放電(dian)(dian)。

值得提出(chu)的是：由于現(xian)(xian)場試(shi)(shi)驗(yan)條件的限制（找(zhao)到(dao)兩(liang)個相似(si)的試(shi)(shi)品(pin)且要(yao)保證一個試(shi)(shi)品(pin)無放電不太容易），所以在(zai)現(xian)(xian)場平衡(heng)法(fa)比較難(nan)實現(xian)(xian)，另外(wai)，由于采(cai)用(yong)串(chuan)聯法(fa)時(shi)，如果試(shi)(shi)品(pin)擊(ji)穿(chuan)，將會對設備造(zao)成(cheng)比較大的損害，所以出(chu)于對設備保護的想法(fa)，在(zai)現(xian)(xian)場試(shi)(shi)驗(yan)時(shi)一般采(cai)用(yong)并聯法(fa)。

采(cai)用并(bing)聯法的整個系統的接線原理圖。

該(gai)系(xi)(xi)統(tong)(tong)采用脈沖電(dian)(dian)(dian)流法檢測(ce)(ce)高(gao)壓(ya)試(shi)品(pin)的(de)(de)局(ju)(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)量，由控制臺控制調(diao)壓(ya)器和(he)(he)變壓(ya)器在試(shi)品(pin)的(de)(de)高(gao)壓(ya)端產生測(ce)(ce)試(shi)局(ju)(ju)(ju)放(fang)所需的(de)(de)預(yu)加電(dian)(dian)(dian)壓(ya)和(he)(he)測(ce)(ce)試(shi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)，通過無局(ju)(ju)(ju)放(fang)藕合電(dian)(dian)(dian)容器和(he)(he)檢測(ce)(ce)阻(zu)抗將局(ju)(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)信(xin)號取出并送至局(ju)(ju)(ju)部(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)(dian)檢測(ce)(ce)儀(yi)顯(xian)示并判斷(duan)和(he)(he)測(ce)(ce)量。系(xi)(xi)統(tong)(tong)中的(de)(de)高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)為了防止(zhi)在測(ce)(ce)試(shi)過程中試(shi)品(pin)擊穿而損壞其他設備，兩個電(dian)(dian)(dian)源濾波器是將電(dian)(dian)(dian)源的(de)(de)干擾和(he)(he)整(zheng)個測(ce)(ce)試(shi)系(xi)(xi)統(tong)(tong)分開，降低整(zheng)個測(ce)(ce)試(shi)系(xi)(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)背景干擾。

根據上(shang)述原理圖可(ke)以看(kan)出，局(ju)部放電(dian)測試(shi)的(de)(de)靈敏度和(he)準確度和(he)整個(ge)系統(tong)(tong)密(mi)切(qie)相關，要想順(shun)利(li)和(he)準確的(de)(de)進行局(ju)部放電(dian)測試(shi)，就必(bi)須將整個(ge)系統(tong)(tong)考濾周到，包括系統(tong)(tong)的(de)(de)參數選(xuan)取和(he)連接(jie)方(fang)式。另外，在(zai)現場試(shi)驗時，由于是驗證(zheng)性(xing)試(shi)驗，高壓限流電(dian)阻可(ke)以省(sheng)掉。

幾種典型試品的接線原理圖。

（1）電(dian)流(liu)互感(gan)器(qi)的局放測試(shi)接線原理圖

（2）電壓互感器的局放測試接線原理圖
A．工頻加壓方式接線原理圖

B．高(gao)頻加壓方式接線(xian)原理(li)圖

為了防止電(dian)(dian)(dian)壓(ya)互感(gan)器在(zai)工頻電(dian)(dian)(dian)壓(ya)下產生大的(de)勵(li)磁(ci)電(dian)(dian)(dian)流而損壞，高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)互感(gan)器一(yi)般采取自激勵(li)的(de)加(jia)(jia)壓(ya)方式。在(zai)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)互感(gan)器的(de)低壓(ya)側加(jia)(jia)一(yi)倍頻電(dian)(dian)(dian)源，在(zai)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)互感(gan)器的(de)高(gao)(gao)壓(ya)端感(gan)應出高(gao)(gao)壓(ya)來進行局部放電(dian)(dian)(dian)實驗。這(zhe)就是通常所(suo)說的(de)三倍頻實驗。其(qi)接(jie)線(xian)原理圖如下：

(3)高壓電容器.絕緣子的局放測(ce)試接線原理(li)圖(tu)

(4) 發電(dian)機的局放測試(shi)接線原理(li)圖

（5）變壓(ya)器的(de)局部(bu)放電(dian)測試接(jie)線(xian)原(yuan)理圖