ST-RX2000 繞(rao)組變形測試儀 由(you)(you)測量部(bu)分及分析軟件部(bu)門組成(cheng),測量部(bu)分是由(you)(you)信(xin)號(hao)(hao)生成(cheng)及信(xin)號(hao)(hao)測量組成(cheng)的黑(hei)匣子,分析部(bu)分由(you)(you)筆(bi)(bi)記本電腦(nao)完成(cheng),測量部(bu)分通過USB與(yu)筆(bi)(bi)記本電腦(nao)連(lian)接(jie)。
ST-3006繞組變形(xing)(xing)測試儀 變壓(ya)器繞組變形(xing)(xing)測試儀(頻響法)用(yong)于測試6KV及以(yi)上電(dian)壓(ya)等級電(dian)力(li)(li)變壓(ya)器及其它特殊用(yong)途的(de)變壓(ya)器,電(dian)力(li)(li)變壓(ya)器在運(yun)行(xing)或者運(yun)輸過程中(zhong)不可避免地要(yao)遭受各種故障短路電(dian)流(liu)的(de)沖(chong)擊(ji)或者物理(li)撞擊(ji),在短路電(dian)流(liu)產生(sheng)的(de)強大電(dian)動(dong)力(li)(li)作用(yong)下,變壓(ya)器繞組可能失去穩(wen)定性(xing),導(dao)致局部扭曲(qu)、鼓(gu)包或移(yi)位等*變形(xing)(xing)現象(xiang),這樣(yang)將嚴(yan)重影響變壓(ya)器的(de)**運(yun)行(xing)。
LJJHBX變(bian)(bian)壓器繞組(zu)(zu)變(bian)(bian)形測(ce)試儀 變(bian)(bian)壓器繞組(zu)(zu)變(bian)(bian)形頻(pin)率響(xiang)應測(ce)試儀根據對變(bian)(bian)壓器內(nei)部繞組(zu)(zu)特征(zheng)參數的測(ce)量,采用目前(qian)世界發達國家正在(zai)開發完善的內(nei)部故(gu)障頻(pin)率響(xiang)應分(fen)析FRA方法,能對變(bian)(bian)壓器內(nei)部故(gu)障作出準確判斷。
ST-RX2000繞組(zu)變(bian)(bian)形測試(shi)儀 用(yong)于測試(shi)6kV及(ji)以上電壓(ya)(ya)等(deng)級電力變(bian)(bian)壓(ya)(ya)器(qi)及(ji)其它特(te)殊用(yong)途的(de)(de)變(bian)(bian)壓(ya)(ya)器(qi),電力變(bian)(bian)壓(ya)(ya)器(qi)在(zai)運行(xing)或(huo)者運輸過程中不可避免地(di)要遭受各種故障短路(lu)電流(liu)的(de)(de)沖(chong)擊或(huo)者物(wu)理撞擊,在(zai)短路(lu)電流(liu)產(chan)生的(de)(de)強(qiang)大電動力作用(yong)下(xia),變(bian)(bian)壓(ya)(ya)器(qi)繞組(zu)可能失去穩定性,導(dao)致局(ju)部扭(niu)曲、鼓包或(huo)移位等(deng)長久變(bian)(bian)形現(xian)象,這樣(yang)將嚴重影(ying)響變(bian)(bian)壓(ya)(ya)器(qi)的(de)(de)安全運行(xing)。
021-63515607
上海市臨洮路
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